利拓儀器生產的環(huán)境試驗箱高溫烤箱它外表采用了SECC鋼板，里面采用了SUS不銹鋼，全新耐高溫長軸心馬達，超高溫保護，超負載自動斷電系統(tǒng)，加熱方式為PlD+S.S.R。

濕度范圍：室溫+20到260度（300度）

該測試系統(tǒng)精度、自動化程度較高，可提多種樣品實驗條件東莞高低溫試驗箱，適合制造廠家、研究機構、質檢單位等使用。

除此之外利拓儀器研發(fā)了各種各類的環(huán)境試驗箱，如果有想了解更多利拓環(huán)境試驗箱的或想購買其他檢測儀器的朋友歡迎來電咨詢！

  

利拓儀器生產的環(huán)境試驗箱 淋雨試驗箱它是通過擺管本淋雨試驗箱是通過擺管的噴水(孔)噴水，模擬大自然降雨情況，用作外殼防護的電氣設備的防護等級試驗的設備。主要用于考核和確定電工、電子產品，各種電器及各種照明燈具的外殼和密封件在水試驗后或在試驗期間能否保證設備和元件良好的工作性能。也是科研單位及質量檢測機構的測試設備。廣泛適用于燈具、電工電子、汽車、摩托車、家電、機電等行業(yè)。

利拓儀器除了生產環(huán)境試驗箱還生產各種各樣的測試儀器，如有想了解更多環(huán)境試驗箱或想購買試驗機的朋友歡迎來電咨詢！

利拓儀器生產的環(huán)境試驗箱三箱式冷熱沖擊試驗箱的三箱設備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產品置于測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊，測試產品為靜態(tài)式。

系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始，冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式恒溫恒濕試驗箱生產廠家。

采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。如有想了解更多環(huán)境試驗箱或想購買試驗機的朋友歡迎來電咨詢！

利拓儀器鹽霧機

 又稱為鹽霧試驗箱，用來檢測被測樣品（汽車零配件、航空器材、攝影器材、家具衛(wèi)浴五金產品、）的可靠性，

鹽水噴霧試驗乃針對各種材質之表面經電鍍、陽極處理、噴涂、防銹油等防腐蝕處理后，測試其制品之耐蝕性。

   鹽霧試驗箱分為中性鹽霧和酸性鹽霧兩種，其區(qū)別在于符合的標準與試驗方法不同，鹽霧試驗法又稱“NSS”和"CASS"試驗 試驗室溫度范圍 35℃-50℃   ，是氣候試驗中常見的一種測試方法。

符合標準：

GB/T 2423.18-2000 交變鹽霧試驗方法

GB/T 6461-2002 等級評判

ASTM.B117-2009 鹽霧試驗

JIS H8502 鹽水噴霧試驗方法

IEC 60068-2-11-1981 鹽霧試驗

IEC 68-2-52 1996 鹽霧試驗

GB/T 6461-2002 鹽霧試驗評定標準

ISO 9227-2006 鹽水噴霧試驗方法

GB/T 12967.3-91 CASS 加速醋酸鹽霧試驗

QB/T 3828-1999 銅鹽加速鹽霧試驗

GB/T 5170.8-2008 鹽霧試驗設備檢驗方法

GB/T 5170.11-2008 腐蝕氣體試驗設備檢驗方法

GJB 150.11A-2008 鹽霧試驗方法

GB/T 2423.17-2008 鹽霧試驗方法

GB/T 10587-2006 鹽霧試驗箱技術條件

CNS 8886-2002 鹽霧腐蝕程度判斷

CNS 4159 醋酸銅鹽水噴霧試驗法

CNS 4158 鹽水噴霧試驗法

高低溫低氣壓試驗箱

本試驗箱適用于航天航空部件，高原產品可靠性檢測進行高低溫低氣壓試驗，模擬高空環(huán)境，做高低溫循環(huán)試驗和溫度－低氣壓綜合試驗。。也可用于散熱試驗樣品的試驗，其散熱功率不能超過試驗箱制冷量，因制冷量為動態(tài)值，其隨溫度點變化而有所變化。

部分設備參數(shù)

型號：LT-PTD-720LT-PTD-1000LT-PTD-2400LT-PTD-0770WLT-PTD-1070WLT-PTD-2470W內部尺寸 WxHxD (mm)800x900x10001000x1000x10001300x1300x140800x900x10001000x1000x10001300x1300x1400外部尺寸WxHxD (mm)1290x2350x25301490x2450x25301790x2750x29301290x2350x25301490x2450x25301790x2750x2930標稱內容積（升）7201000237072010002370溫度范圍(環(huán)境溫度+20)℃～+160℃-70℃～+160℃壓力范圍常壓～0.5kPa（箱內干燥時）

10000L步入式恒溫恒濕試驗箱廣泛用于材料、電工、電子產品、航天、航空、汽車、儀器儀表、電工產品以及各種電子元器件在高低溫和濕熱環(huán)境變化條件下的性能。

符合標準GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 

低溫試驗方法GB/T2423.2-2008 

高溫試驗方法GJB150.3A-2009 

高溫試驗方法GJB150.4A-2009 

低溫試驗方法GB2423.22-2008

 溫度變化速率試驗方法GBT2424.5-2006 

溫度試驗箱性能確認GB/T10586-2008 

低溫試驗箱技術條件GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 

恒定濕熱試驗方法GJB150.9A-2009 

濕熱試驗方法G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 

交變濕熱方法GB/T5170.18-2005 

試驗設備基本參數(shù)檢定方法GB/T10586-2006 

濕熱試驗箱技術條件GBT2424.6-2006 

溫度濕度試驗箱性能確認GBT2424.7-2006 

(帶負載)溫度試驗箱測量部分參數(shù)舉報/反饋