東莞市利拓檢測儀器有限公司生產(chǎn)的東莞高低溫試驗箱器老化試驗機又名老化試驗箱和紫外線老化試驗箱，它的主要用于皮類鹽霧試驗機，塑料類，橡膠類，布類等材料受熱前與受熱后的變化特征性。經(jīng)規(guī)定之溫度及時間均勻受熱后，觀測試樣老化前后之耐黃，開膠，收縮，伸長，殘余率等性能，從而判定其老化特征，以苛刻的環(huán)境溫度促進加硫橡膠環(huán)境試驗箱，塑膠制品以觀察式件劣化程度，或用來比對經(jīng)高溫前后試件抗拉強度，伸長量及抗折之物性變化。

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利拓儀器生產(chǎn)的東莞高低溫試驗箱鹽水噴霧試驗機專門針對各種材質(zhì)之表面處理，（包含涂料，電鍍，無機及機皮膜，陽極處理，方銹油等防蝕處理）后，測試其制品之耐蝕性恒溫恒濕試驗箱生產(chǎn)廠家。

它的噴霧方式是采用了伯努特原理吸取鹽水而后霧化，霧化程度均勻，不會有阻塞結(jié)晶之現(xiàn)象，可確保連續(xù)測試之標準，噴嘴采用特玻璃噴嘴制成，可調(diào)整噴量之大小及噴出角度

噴霧量調(diào)試1~2ml（ml/80cm 2/h）(16小時撲平均量)采用連續(xù)噴霧方式。

注：實驗室藍架采平面分度架，可任意調(diào)解角度

另外利拓儀器除了研發(fā)東莞高低溫試驗箱之外還研發(fā)了各種各類的試驗檢測儀器，如果有想了解更多利拓東莞高低溫試驗箱的或想購買其他檢測儀器的朋友歡迎來電咨詢！

利拓儀器生產(chǎn)的東莞高低溫試驗箱 氙燈耐候試驗箱模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗通過材料試樣暴露在氙弧燈的光照及熱輻射下進行老化試驗，來評價在高溫光源作用下某些材料的耐候性能主要用于汽車、涂料、橡膠、塑膠、廈料、粘合劑、織物、航空航天、艦艇船舶、電子行業(yè)、包裝行業(yè)等。

本氙燈耐氣候試驗箱可用于新材料的選擇、改變現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所發(fā)生的變化。

利拓儀器除了生產(chǎn)東莞高低溫試驗箱還生產(chǎn)各種各樣的測試儀器，如有想了解更多東莞高低溫試驗箱或想購買試驗機的朋友歡迎來電咨詢！

利拓儀器生產(chǎn)的東莞高低溫試驗箱沙塵試驗箱該設(shè)備適用于電工電子產(chǎn)品、汽車、摩托車零部件、密封件在砂塵環(huán)境中防止砂塵進入密封件和外殼的試驗以檢驗電子電工產(chǎn)品、汽車、摩托車零部件、密封件在環(huán)境中的使用、貯存、運輸?shù)男阅?。試驗?zāi)康氖谴_定氣流攜帶的粒對電工產(chǎn)品可能造成的有害影響。

試驗可用于模擬開放的由自然環(huán)境或者人為擾動例如車輛運動誘發(fā)的砂塵空氣環(huán)境條件。

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利拓儀器鹽霧機

 又稱為鹽霧試驗箱，用來檢測被測樣品（汽車零配件、航空器材、攝影器材、家具衛(wèi)浴五金產(chǎn)品、）的可靠性，

鹽水噴霧試驗?zāi)酸槍Ω鞣N材質(zhì)之表面經(jīng)電鍍、陽極處理、噴涂、防銹油等防腐蝕處理后，測試其制品之耐蝕性恒溫恒濕試驗箱生產(chǎn)廠家。

   鹽霧試驗箱分為中性鹽霧和酸性鹽霧兩種，其區(qū)別在于符合的標準與試驗方法不同，鹽霧試驗法又稱“NSS”和"CASS"試驗 試驗室溫度范圍 35℃-50℃   ，是氣候試驗中常見的一種測試方法。

符合標準：

GB/T 2423.18-2000 交變鹽霧試驗方法

GB/T 6461-2002 等級評判

ASTM.B117-2009 鹽霧試驗

JIS H8502 鹽水噴霧試驗方法

IEC 60068-2-11-1981 鹽霧試驗

IEC 68-2-52 1996 鹽霧試驗

GB/T 6461-2002 鹽霧試驗評定標準

ISO 9227-2006 鹽水噴霧試驗方法

GB/T 12967.3-91 CASS 加速醋酸鹽霧試驗

QB/T 3828-1999 銅鹽加速鹽霧試驗

GB/T 5170.8-2008 鹽霧試驗設(shè)備檢驗方法

GB/T 5170.11-2008 腐蝕氣體試驗設(shè)備檢驗方法

GJB 150.11A-2008 鹽霧試驗方法

GB/T 2423.17-2008 鹽霧試驗方法

GB/T 10587-2006 鹽霧試驗箱技術(shù)條件

CNS 8886-2002 鹽霧腐蝕程度判斷

CNS 4159 醋酸銅鹽水噴霧試驗法

CNS 4158 鹽水噴霧試驗法

10000L步入式恒溫恒濕試驗箱廣泛用于材料、電工、電子產(chǎn)品、航天、航空、汽車、儀器儀表、電工產(chǎn)品以及各種電子元器件在高低溫和濕熱環(huán)境變化條件下的性能。

符合標準GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 

低溫試驗方法GB/T2423.2-2008 

高溫試驗方法GJB150.3A-2009 

高溫試驗方法GJB150.4A-2009 

低溫試驗方法GB2423.22-2008

 溫度變化速率試驗方法GBT2424.5-2006 

溫度試驗箱性能確認GB/T10586-2008 

低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 

恒定濕熱試驗方法GJB150.9A-2009 

濕熱試驗方法G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 

交變濕熱方法GB/T5170.18-2005 

試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T10586-2006 

濕熱試驗箱技術(shù)條件GBT2424.6-2006 

溫度濕度試驗箱性能確認GBT2424.7-2006 

(帶負載)溫度試驗箱測量部分參數(shù)舉報/反饋